| 专利名称 | 一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法 | 申请号 | CN201010214239.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102314523A | 公开（授权）日 | 2012.01.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法 至一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明公开一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法，涉及集成电路技术领域。本方法根据输入的集成电路物理版图数据，对物理版图按计算节点进行区域划分，对不同计算节点内的区域进行同构分析，确定各计算节点内及相互之间的相同区域分析顺序，按顺序对物理版图区域进行分析和优化，在分析和优化过程中复用计算节点之间同构区域分析和优化的结果。本发明利用多级区域分割算法对物理版图进行划分，利用同构分析方法对划分后区域进行分析，找出其中相同的区域，让时间顺序上在后的要分析和优化的区域，不用再进行计算，而是直接复用与其完全相同的在先区域计算结果，从而节约时间，提高速度。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障