| 专利名称 | 激光器噪声特性的测量装置 | 申请号 | CN201110172609.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102353523A | 公开（授权）日 | 2012.02.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 杨飞;蔡海文;陈迪俊;瞿荣辉 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 激光器噪声特性的测量装置 至激光器噪声特性的测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种激光器噪声特性的测量装置，由激光器噪声波动的转化系统和探测处理系统构成，主要包括环形器，3×3耦合器，第一光开关，第二光开关，光纤，第一法拉第旋转反射镜，第二法拉第旋转反射镜，移频器，第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、数据采集卡和计算机。本发明装置能同时测量出激光器的噪声特性，包括激光器的强度噪声功率谱密度、相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽和频率不稳定性的阿仑方差，具有集成度高，结构较简洁的特点，不需要额外的主动控制手段，对待测激光没有任何限制，提高了激光器噪声特性测量的可信度。 |
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