| 专利名称 | 一种地表粗糙度测量系统及测量方法 | 申请号 | CN201210223607.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102706295A | 公开（授权）日 | 2012.10.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院遥感应用研究所 | 发明（设计）人 | 邵芸;王国军;宫华泽;张风丽;刘龙 | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 专利有效期 | 一种地表粗糙度测量系统及测量方法 至一种地表粗糙度测量系统及测量方法 | 法律状态 | 著录事项变更 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种地表粗糙度测量系统及测量方法，包括：支撑装置，用于支撑电动装置、激光测距装置、倾角测量装置；电动装置，在控制处理装置的控制下用于使激光测距装置在支撑装置的水平方向上均匀移动；激光测距装置，其照射方向铅垂向下，在控制处理装置的控制下用于测量与地面点的距离，并将测量值反馈给控制处理装置；通讯装置，用于保证激光测距装置与控制处理装置之间的数据通讯；倾角测量装置，用于测量支撑装置与水平方向的倾角；控制处理装置，用于整个系统的控制，通过发送指令控制电动装置和激光测距装置的工作，接受并存储测量数据，并计算粗糙度参数。本发明采用非接触式法测量，测量方式垂直向下，适合各种复杂地表且破坏地表。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障