| 专利名称 | 材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 | 申请号 | CN201110179440.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102353815A | 公开（授权）日 | 2012.02.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 刘争晖;徐耿钊;樊英民;钟海舰;徐科 | 主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I;G01Q60/40(2010.01)I | 专利有效期 | 材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 至材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种材料的表面局域电子态的测量装置，包括样品台、直流信号发生器、交流信号发生器、可调波长的单色光光源以及镀金属膜的探针；所述样品台是导电的；探针设置在样品台表面，并与样品台保持一距离以放置待测样品；所述直流信号发生器与交流信号发生器的两个输出端中的一个连接在样品台上，另一个连接在探针上；可调波长的单色光光源所发出的光束为聚焦光束，聚焦光束能够聚焦至探针的针尖处。 |
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