| 专利名称 | 相干类测深声纳正下方高精度测深方法及系统 | 申请号 | CN201210211842.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102721966A | 公开（授权）日 | 2012.10.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院声学研究所 | 发明（设计）人 | 许高凤;刘晓东;朱维庆;张东升;张方生;曹金亮 | 主分类号 | G01S15/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S15/10(2006.01)I | 专利有效期 | 相干类测深声纳正下方高精度测深方法及系统 至相干类测深声纳正下方高精度测深方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种相干类测深声纳正下方高精度测深方法。该方法为计算正下方可信底平均深度通过变阈值方法，利用所述正下方可信底平均深度规划相干测深声纳获得的原始相干测深序列。同时，本发明涉及一种相干类测深声纳正下方高精度测深系统。该系统包括，计算正下方可信底平均深度的模块；通过变阈值方法，利用所述正下方可信底平均深度规划相干测深声纳获得的原始相干测深序列的模块。本发明提供的一种相干类测深声纳正下方高精度测深方法及系统，有效地弥补了相干类测深声纳在正下方的测深缺陷，实现了相干类测深声纳全覆盖范围内的高精度侧深。 |
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