| 专利名称 | 一种检测铁调素的方法和试剂盒 | 申请号 | CN201110149663.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102809599A | 公开（授权）日 | 2012.12.05 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 聂广军;T·胡;范佳;赵宇亮;M·弗拉里 | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 专利有效期 | 一种检测铁调素的方法和试剂盒 至一种检测铁调素的方法和试剂盒 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种检测铁调素的方法，该方法包括如下步骤：(1)将样品液体与纳米芯片接触后，去除样品液体，得到接触样品后的纳米芯片；所述样品液体含有铁调素或不含有铁调素；(2)用洗脱液洗脱接触样品后的纳米芯片，得到洗脱产物；所述洗脱液能够溶解铁调素；(3)获取步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果；(4)根据所述质谱检测结果确定洗脱产物中是否含有铁调素或者确定洗脱产物中铁调素的含量。本发明还提供了一种检测铁调素的试剂盒，该试剂盒包括：(i)样品稀释液，所述样品稀释液含有水、三氟乙酸和乙腈；(ii)纳米芯片。本发明提供的检测铁调素的方法，显著地提高了基于质谱的铁调素检测方法的灵敏度和准确度。 |
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