| 专利名称 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法 | 申请号 | CN201210282551.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102788990A | 公开（授权）日 | 2012.11.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 祝庆军;宋逢泉;宋钢;廖燕飞;吴宜灿 | 主分类号 | G01T3/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T3/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法 至一种基于量子点的中子能谱测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法，通过使用若干种不同种类的量子点作为中子探测器，根据各种量子点对入射中子产生光学信号的差异，获得入射中子的能谱信息等。本发明提出了一种新的能谱测量的新方法，适用于从10-9MeV-100MeV的中子能谱测量。 |
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