| 专利名称 | 一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置 | 申请号 | CN201210305222.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102830090A | 公开（授权）日 | 2012.12.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 倪磊;杨月英;廖胜;任栖峰 | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置 至一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管。当样品仓中温度降低时，样品的折射率会随着改变，偏向角δ也会有微小的变化Δδ，偏向角变化量可由平行光管测量出，从而得到低温下材料的折射率改变。本发明基于最常用的垂直入射法的，原理简单，操作方便，所测得样品棱镜可以是红外材料也可以是可见光波段的材料，应用范围广，用平行光管代替了一般测量用的编码器，平行光管测角度的微小变化准确度高，能很好的应用于测量低温下材料射率变化引起的偏向角的微小变化，降低了装置成本，提高了偏向角测量精度。 |
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