| 专利名称 | 哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 | 申请号 | CN201210264033.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102829882A | 公开（授权）日 | 2012.12.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 宣丽;穆全全;曹召良;胡立发;彭增辉;李大禹;刘永刚;夏明亮;姚丽双;杨程亮;鲁兴海 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G02B27/30(2006.01)I | 专利有效期 | 哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 至哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法。其特征如图所示，传统的哈特曼波前探测器由微透镜阵列1、第一透镜2、第二透镜3、光电探测器4组成，其中第一透镜2、第二透镜3构成哈特曼波前探测器的转接镜头；本发明在哈特曼波前探测器的转接镜头上设计能插入、拔出的凹透镜5，当进行哈特曼波前探测器与入射光束孔径对准时，将凹透镜5插入到转接镜头中的光路上，从而使光电探测器4上的光点阵列像切换为微透镜阵列1的实物像，实现可视化地调节微透镜阵列1的位置，使入射光束孔径与哈特曼波前探测器孔径对准。孔径对准完成后将凹透镜5移出光路，恢复为传统配置的哈特曼波前探测器，可以进行波前探测。 |
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