| 专利名称 | 一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法 | 申请号 | CN201010236533.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102339341A | 公开（授权）日 | 2012.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法 至一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法，属于集成电路设计自动化领域。本发明利用电路级前仿真结果作为输入，分析出信号的变化频率和变化幅度，再对器件和线网进行分类，确定敏感线网和敏感器件及主要噪声源器件和噪声源线网，利用LVS原理定位器件和物理线网，据此对提取区域的精度控制进行分类，从而支持对不同区域采取不同的精度控制提取寄生参数。本发明可有效地缩小计算规模、提高寄生参数提取精度和提高后续电路仿真速度，又不失后续电路仿真的准确性。 |
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