| 专利名称 | 回转体曲线机构进给精度的检测系统 | 申请号 | CN201120533904.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202471398U | 公开（授权）日 | 2012.10.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李华;朱辉;常何民 | 主分类号 | G01M13/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M13/00(2006.01)I | 专利有效期 | 回转体曲线机构进给精度的检测系统 至回转体曲线机构进给精度的检测系统 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种回转体曲线机构进给精度的检测系统。回转体曲线机构包括回转基体和外围定位零件，外围定位零件上的定位销钉嵌入回转基体上的曲线槽中，并能够在槽内自由滑动；本实用新型的检测系统包括光学自准直仪、反射镜、能够记录转动角度的转台和用以测量外围定位零件高度的测高仪，回转基体水平固定于转台上，反射镜竖直固定于外围定位零件上，光学自准直仪位置固定，其准直轴线水平对准所述反射镜。本实用新型结果可靠；检测方法灵活；高效率；易于普及。 |
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