| 专利名称 | 线性双折射测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201210193165.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102706809A | 公开（授权）日 | 2012.10.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;陈贝石;刘龙海;郑乐行;朱玲琳;黄惠杰 | 主分类号 | G01N21/23(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/23(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 线性双折射测量装置和测量方法 至线性双折射测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种线性双折射测量装置和测量方法，该装置由光强调制的准直光源、圆起偏器、沃拉斯顿棱镜、双象限探测器和信号处理单元组成，上述元部件的位置关系是：沿所述的光强调制的准直光源输出的光束前进方向上，依次是所述的圆起偏器、沃拉斯顿棱镜和双象限探测器，所述的双象限探测器的输出端与所述的信号处理单元的输入端相连，在所述的圆起偏器和沃拉斯顿棱镜之间设置待测线性双折射样品的插口。本发明装置结构简单、测量操作方便，能同时测量线性双折射样品的相位延迟量和快轴方位角，测量结果不受光源光强波动的影响。 |
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