| 专利名称 | 一种电路问题设计布图定位调整的方法 | 申请号 | CN201010230166.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102339331A | 公开（授权）日 | 2012.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种电路问题设计布图定位调整的方法 至一种电路问题设计布图定位调整的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明适用于集成电路设计领域，提供了一种电路问题设计布图定位调整的方法，所述方法包括：建立布图问题对电路性能的影响趋势表；对模拟集成电路前仿真波形和后仿真波形比较分析，确定模拟集成电路问题波形；根据问题波形定位影响模拟集成电路性能的寄生RLC问题序列；根据寄生RLC问题序列确定寄生RLC位置；根据寄生RLC位置确定寄生RLC连接的器件和对应的物理连接；确定问题设计布图；根据布图问题对电路性能的影响趋势表调整问题设计布图。本发明通过自动定位模拟集成电路问题设计布图并进行调整，解决了现行模拟集成电路设计布图问题的定位调整效率低、速度慢的问题，同时提高了模拟集成电路设计布图问题定位调整的自动化水平。 |
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