| 专利名称 | 一种模拟集成电路设计调试的方法 | 申请号 | CN201010230150.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102339328A | 公开（授权）日 | 2012.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种模拟集成电路设计调试的方法 至一种模拟集成电路设计调试的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明适用于集成电路设计领域，提供了一种模拟集成电路设计调试的方法，所述方法包括：建立电路器件参数对电路性能的影响趋势表；分析模拟集成电路的仿真波形，确定问题波形；根据所述问题波形确定问题器件的修改参数；确定所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值；根据所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值，确定所述问题器件新的器件参数值。本发明通过分析模拟集成电路的仿真波形，确定问题波形、问题器件修改参数及参数修改方向、修改范围和修改参考值，并据此确定问题器件新的器件参数值，解决了现行模拟集成电路设计调试依赖设计人员经验和知识，设计效率低、速度慢的问题，同时提高了模拟电路设计调试的自动化水平。 |
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