| 专利名称 | 用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法 | 申请号 | CN200810119122.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101339004 | 公开（授权）日 | 2009.01.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 魏凌;姚平;王海英;刘进舟;魏凯;饶长辉;饶学军;张雨东 | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/02(2006.01)I;G02B26/06(2006.01)I | 专利有效期 | 用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法 至用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法，其特征在于：所述的 用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法在计算一子孔径某一方向上的 质心偏移量时，先分别将该孔径的参考图像和待检测图像的灰度在这一方向累积，然后 将累积所得到的向量分别进行DFT变换，接着计算变换后得到的向量的相位差向量，并 将此相位差向量解卷绕，通过一次线性拟合得到相位差向量的斜率，最后由该斜率计算 出待检测的图像与参考图像质心的相对偏移量；本探测器的质心检测方法流程简单、稳 定，易实现，相对于现有质心偏移探测技术，能够很好的抑制噪声带来的影响，得到较 高、较稳定的质心偏移量探测精度，且便于移植，因而可以得到较好、较稳定的波前探 测精度。 |
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