| 专利名称 | 高速运动电子标签的射频应用系统性能的测试系统和方法 | 申请号 | CN200910242749.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101782959A | 公开（授权）日 | 2010.07.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 谭杰;朱智源;赵红胜 | 主分类号 | G06K7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 高速运动电子标签的射频应用系统性能的测试系统和方法 至高速运动电子标签的射频应用系统性能的测试系统和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明为高速运动电子标签的射频应用系统性能的测试系统和方法，由读写器发射天线、频谱分析仪接收天线、待测电子标签、读写器天线支架、待测读写器、频谱分析仪、控制计算机、驱动电机控制器、驱动电机、转盘、防护罩、支撑台组成，其方法是通过驱动电机带动转盘，使固接在转盘上的待测电子标签以高速运动，利用电子标签在转盘切线方向的速度来模拟实际应用中电子标签直线运动速度，从而科学的、可重复的对电子标签在高速运动状态下的RFID应用系统性能进行评价。通过转盘切线方向速度来模拟直线方向速度实现高速运动电子标签的射频应用系统性能基准测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
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