| 专利名称 | 一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置 | 申请号 | CN201210076870.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102628950A | 公开（授权）日 | 2012.08.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 秦秀波;赵博震;朱美玲;袁路路;赵维;舒航;曹大泉;孙翠丽;魏存峰;魏龙 | 主分类号 | G01T1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置 至一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明实施例公开了一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置。所述装置包括X射线光源、光学平台、滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器；所述X射线光源用于产生具有特定能量和发散角的X射线；所述滤光片通过光具座固定在所述X射线光源的出口处，用于调节X射线的能谱；所述光圈限束器通过光具座固定在所述滤光片的出口处，用于控制X射线在所述待测探测器表面的射野；所述测试器件紧贴所述待测探测器前端面放置，采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和边缘图像，并通过对输出图像的分析计算得到相应的性能测试参数。该装置能够针对DQE有关的所有参数进行测试，且具有结构简单、成本低廉的优点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障