一种基于多子孔径成像的大气等晕角测量方法

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专利名称 一种基于多子孔径成像的大气等晕角测量方法 申请号 CN201210395654.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102901483A 公开(授权)日 2013.01.30 申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 郑文佳;李新阳;鲜浩;李梅 主分类号 G01C1/00(2006.01)I IPC主分类号 G01C1/00(2006.01)I;G01S17/89(2006.01)I 专利有效期 一种基于多子孔径成像的大气等晕角测量方法 至一种基于多子孔径成像的大气等晕角测量方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种基于多子孔径成像的大气等晕角测量方法,利用多子孔径成像原理,结合湍流大气中光闪烁效应测量方法,来确定大气等晕角。引入了方形孔径的大气等晕角星光闪烁测量方法,以及圆形和方形孔径在不同孔径尺寸下的等晕角计算修正因子,使该方法能适用于具有不同尺寸的圆形和方形子孔径的多子孔径成像系统。本发明的方法流程简单,易实现,能直接应用于以多子孔径成像系统作为探测器的光学系统,例如以哈特曼作为探测器的自适应光学系统中,实现与其同光路共光轴测量,拓展了现有的光闪烁效应测量等晕角的应用范围,减小了其测量误差。

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