| 专利名称 | RFID标签响应频率基准测试系统及方法 | 申请号 | CN200910237841.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101782608A | 公开（授权）日 | 2010.07.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 刘禹;朱智源;李秀萍 | 主分类号 | G01R23/16(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R23/16(2006.01)I | 专利有效期 | RFID标签响应频率基准测试系统及方法 至RFID标签响应频率基准测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法，该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，该方法是在保持输入能量相同的情况下，通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性，得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
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