| 专利名称 | 一种双通道二阶非线性光学测试系统 | 申请号 | CN201010116231.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102192899A | 公开（授权）日 | 2011.09.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院福建物质结构研究所 | 发明（设计）人 | 魏勇;张戈;黄呈辉;朱海永;黄凌雄;吴柏昌 | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | 专利有效期 | 一种双通道二阶非线性光学测试系统 至一种双通道二阶非线性光学测试系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种双通道二阶非线性光学测试系统，用于测试材料的二阶非线性光学效应。包括激光光源、透光片、样品架、聚焦透镜、分光镜、第一滤光片、第一光电倍增管、第二滤光片、第二光电倍增管、信号接收分析仪、避光盒。根据激光激发样品所产生的光信号中包含倍频光和非倍频光的强弱以及相对强弱关系，采用第一、第二光电倍增管对样品所激发的光信号光分别经过第一滤光片和第二滤光片滤光后进行两路探测，通过对两路探测信号的比较分析，进而实现对包括粉末和单晶样品二阶非线性光学效应的定性和定量测试。该双通道二阶非线性光学测试系统结构简单、轻巧实用、操作方便，具有波段使用范围宽、响应灵敏度高等优点，能够有效实现对样品材料二阶非线性光学效应的定性和定量测试，具有广泛的应用前景和使用价值。 |
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