一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置

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专利名称 一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置 申请号 CN201010152394.4 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101805927A 公开(授权)日 2010.08.18 申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 陈博源;陈之战;施尔畏;严成锋;肖兵 主分类号 C30B29/36(2006.01)I IPC主分类号 C30B29/36(2006.01)I 专利有效期 一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置 至一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置 法律状态 专利申请权、专利权的转移 说明书摘要 本发明属于晶体生长领域,具体涉及一种高纯半绝缘碳化硅体单晶的生长装置。该生长装置包括真空室、石墨坩埚和感应线圈。本发明的生长装置基于物理气相传输(PVT)技术生长高纯半绝缘碳化硅体单晶,无需特殊的生长工艺。其主要特点为:生长炉的侧壁使用多层(至少三层)结构,侧壁内具有两个以上的相互独立的空间,分别用于通冷却水和高纯惰性气体(一般是高纯氩气),或通冷却水和抽真空。采用本发明的生长装置可以有效地将石墨坩埚和空气隔绝,避免生长过程中空气中的氮气进入石墨坩埚,有效地控制氮元素掺入生长的碳化硅晶体,得到高纯半绝缘碳化硅体单晶。

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