| 专利名称 | X射线计算机断层成像系统的几何校正方法 | 申请号 | CN200910087131.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101750430A | 公开（授权）日 | 2010.06.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;朱守平;杨鑫;闫国瑞 | 主分类号 | G01N23/203(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/203(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;G01N23/083(2006.01)I;G03B42/02(2006.01)I | 专利有效期 | X射线计算机断层成像系统的几何校正方法 至X射线计算机断层成像系统的几何校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是X射线计算机断层成像系统的几何校正方法，尤其适合于圆轨道的锥束和扇束计算机断层成像系统的几何参数校正，利用线模体X射线计算机断层成像三维重建数据中包含的计算机断层成像系统的X射线探测器偏移信息，精确估计X射线探测器的水平偏移量，并用获得的水平偏移量进行X射线计算机断层成像系统的几何校正，从而提高X射线计算机断层成像系统的空间分辨率，减少图像伪影。 |
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