| 专利名称 | 四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法 | 申请号 | CN200810040614.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101319958 | 公开（授权）日 | 2008.12.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;杨坤;郭小娴;谢承科;黄惠杰;王向朝 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法 至四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法，该装置由准直光源、起偏器、 标准四分之一波片、衍射分束元件、聚焦透镜、检偏器阵列、光电探测器阵列、放 大电路和信号处理系统组成。测量方法是准直光源出射的平行光束经过起偏器、标 准四分之一波片后形成圆偏振光，该圆偏振光经过待测四分之一波片后由衍射分束 元件进行分光，多个强度相等的子光束由聚焦透镜聚焦在检偏器阵列上各自产生偏 振干涉，形成依次具有一定移相量的干涉光强并由光电探测器阵列所接收，光电探 测器阵列输出的电信号经过放大电路后由信号处理系统进行处理即可以实时获得待 测四分之一波片的快轴方位角度。 |
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