| 专利名称 | 束源炉中源材料熔化时对应热偶温度的测量方法 | 申请号 | CN200810035446.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101311299 | 公开（授权）日 | 2008.11.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 龚谦;王海龙;徐海华 | 主分类号 | C23C14/24(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C14/24(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I;C30B23/02(2006.01)I | 专利有效期 | 束源炉中源材料熔化时对应热偶温度的测量方法 至束源炉中源材料熔化时对应热偶温度的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种分子束外延(MBE)技术中测量束源炉中源材料熔化时对 应源炉热偶温度的测量方法。其特征在于测定步骤是测量出束源炉升温时的 热偶温度——功率曲线；测量出束源炉降温时的热偶温度——功率曲线；将升温 时和的热偶温度——功率曲线上源材料开始熔化的对应温度和降温时的热偶温 度、功率曲线上源材料开始凝固的对应温度进行比较，从而得出源材料熔化 时对应束源炉中热偶的温度。本发明是利用分子束外延设备源炉中源材料在 加热熔化和降温凝固过程中功率曲线在熔化与凝固温度附近会出现相应波动 的实验现象，通过分析比较波动出现的位置精确定出束源炉中源材料熔化时 对应的束源炉中热偶温度数值。所提供的测定方法对MBE技术在实际中的应 用具有重要的意义。 |
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