| 专利名称 | 扫描测试方法及电路 | 申请号 | CN201210249748.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102749574A | 公开（授权）日 | 2012.10.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 陈岚;冯燕 | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 专利有效期 | 扫描测试方法及电路 至扫描测试方法及电路 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种扫描测试方法，对具有RAM的扫描链进行扫描测试，包括：将RAM进行初始化，以使RAM处于预定值；扫描链处于移位寄存器状态，进行测试向量的输入，并保持RAM预定值；扫描链处于工作状态，将激励加载至扫描链的初级输入端，捕获扫描链的测试输出值；扫描链处于移位寄存器状态，进行测试输出值的输出。不需要通过多个测试周期来获得RAM输出端的预定值，有效地减少测试周期从而减少测试时间。 |
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