| 专利名称 | 一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置 | 申请号 | CN200810115465.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101308189 | 公开（授权）日 | 2008.11.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 牛文豪;张国强;王新 | 主分类号 | G01R31/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置 至一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置 | 法律状态 | 专利申请权、专利权的转移 | 说明书摘要 | 一种用于气液两相流状态下的介质绝缘性能测量的装置，加热装置(20)位于密封容 器(10)的底部，冷凝装置(90)处于密封容器(10)的上部。冷凝装置(90)开有穿出密 封容器(10)顶板的进水口(100)和出水口(110)。高压电极(50)和低压电极(60)处 于密封容器(10)的中部，从相对的两个方向穿入密封容器(10)内；密封容器(10)中加 入待测液体介质(40)，加热装置(20)对液体介质(40)加热至沸腾两相流状态，液体介 质(40)沸腾蒸发后产生的蒸汽由冷凝装置(90)冷凝，变成液体，流回密封容器(10)底 部。本发明可用于各种液体介质在气液两相流状态下绝缘性能的测量，以及处于两相流状态 下液体介质环境中的固体绝缘材料的绝缘性能的测量。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障