| 专利名称 | 一种多模态自发荧光断层分子影像仪器及重建方法 | 申请号 | CN200710099044.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101301192 | 公开（授权）日 | 2008.11.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;秦承虎;吕玉杰;杨鑫 | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/00(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I;A61B10/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种多模态自发荧光断层分子影像仪器及重建方法 至一种多模态自发荧光断层分子影像仪器及重建方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开多模态自发荧光断层分子影像仪器包括：信号采集模 块，信号预处理模块，系统控制模块，信号后处理模块。方法，用X射 线成像和多级自适应有限元的自发荧光断层成像，结合数字鼠、重建目 标区域光学特性参数和模态融合，确定光源可行区域，根据后验误差估 计，对局部网格进行自适应优化分解，以得到重建目标区域内部的荧光 光源。自发荧光断层成像的多模态融合成像方式有效的解决自发荧光断 层分子影像的病态问题，对复杂重建目标区域内部的自发荧光光源进行 精确重建。用液氮制冷CCD探测器、多角度荧光探测技术和多模态融 合技术，用重建目标区域非匀质特性的基于多级自适应有限元的自发荧 光断层分子影像算法完成自发荧光光源的精确重建。 |
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