| 专利名称 | 一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法 | 申请号 | CN200910082721.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101876663A | 公开（授权）日 | 2010.11.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明（设计）人 | 孟凡勇;王维;李静海 | 主分类号 | G01P5/22(2006.01)I | IPC主分类号 | G01P5/22(2006.01)I;G01P15/16(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法 至一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法，基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I；3)根据步骤1)和2)的数据计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，并计算出所述两相流颗粒团聚物速度及加速度。 |
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