| 专利名称 | 一种用于测量高反射率的装置 | 申请号 | CN200810055653.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101261181 | 公开（授权）日 | 2008.09.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;龚元;韩艳玲 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01N21/55(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于测量高反射率的装置 至一种用于测量高反射率的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器将光信号转换后的电信号由数据采集卡 记录并输给计算机处理及存储，计算机同时控制数据采集卡的采集参数；其特征在于：入射腔 镜和出射腔镜与平面高反镜共同构成稳定的初始衰荡腔，入射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡 腔的入射臂，出射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的出射臂；测试时，光源发出的光束经匹 配透镜进入衰荡腔，会聚透镜和光电探测器置于平面高反镜后探测光腔输出信号，由光腔衰荡 技术测得初始腔衰荡时间τ1，在出射臂插入待测平面镜，调节出射腔镜，形成稳定的测试腔， 同理可测得测试腔衰荡时间τ2；计算可得待测平面镜反射率；本发明所改进的装置稳定性好、 测量精度高、容易调节，适合开发高反射率测量仪器。 |
1、源头对接，价格透明
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