| 专利名称 | 表面缺陷检测方法、装置 | 申请号 | CN200810027040.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101256157 | 公开（授权）日 | 2008.09.03 | 申请（专利权）人 | 广州中国科学院工业技术研究院;中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明（设计）人 | 邬纪泽;李伟;沈大刚 | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I | 专利有效期 | 表面缺陷检测方法、装置 至表面缺陷检测方法、装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及检测领域，公开了一种表面缺陷检测方法、装置，方法包括： 获取表面的原始图像；对原始图像的各像素点，分别计算每像素点在多个方 向的梯度值，取其中最大值作为像素点的新的灰度值，得到梯度图像；对梯 度图像，如果灰度值像素点的灰度值大于阈值，则将其灰度值赋值为：第一 灰度值，否则赋值为：第二灰度值，获取二值化图像；细化二值化图像，得 到单线条的二值化图像，其中包括单线条的缺陷边缘；将单线条的缺陷边缘， 转换为闭环的缺陷边缘；在原始图像中，比较闭环的缺陷边缘内像素点与外 侧附近的像素点的灰度值的大小，如果小于，则判定闭环的缺陷为：表面的 缺陷。应用本技术方案能够实现对被检测物件的缺陷的自动检测，提高检测 效率。 |
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