| 专利名称 | 热红外下行辐射测定装置及其测定方法 | 申请号 | CN201210362463.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102879107A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 发明（设计）人 | 张仁华;邵全琴;樊江文;邴龙飞 | 主分类号 | G01J5/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/12(2006.01)I | 专利有效期 | 热红外下行辐射测定装置及其测定方法 至热红外下行辐射测定装置及其测定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明为环境热红外辐射照度测定装置及其测定方法，该测定装置包括亚光镀金盖板、热电偶放置槽、热电偶传感器、容水器、热电偶测温仪主机及热红外辐射计；热电偶放置槽在亚光镀金盖板下表面铣出，其开口向下，热电偶传感器设置在热电偶放置槽中；亚光镀金盖板设置在容水器顶部，热电偶放置槽的顶端高度低于水容器上沿；热电偶传感器与热电偶测温仪电连接；该测定方法是运用热电偶采集并计算亚光镀金盖板上表面黑体辐射，运用红外辐射计测定亚光镀金盖板的出射辐射度，并通过转换公式得到天空热红外下行辐射或环境热红外辐射照度；本发明是直接测量天空半球积分下行辐射的唯一装置，本发明极大提升了裸亚光镀金盖板外表面温度测量的精确度。 |
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