| 专利名称 | 一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置 | 申请号 | CN200710063609.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101241154 | 公开（授权）日 | 2008.08.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 吴季;张成;刘浩 | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置 至一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括一种用于干涉 式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；还包括至少两个天线单元分别通过 连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转；所述 至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种，分别为第一距离和第二距离， 所述第一距离大于第二距离。本发明的优点在于：降低观测系统的复杂度，减少成 本；提高系统的精确度和稳定性。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障