| 专利名称 | 一种标定偏振片透光轴的装置及方法 | 申请号 | CN201110063565.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102279094A | 公开（授权）日 | 2011.12.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王建宇;吴金才;何志平;舒嵘;贾建军;杨世骥;强佳;周辉;姜紫庆;吴永红 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种标定偏振片透光轴的装置及方法 至一种标定偏振片透光轴的装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法，它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定，适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理，在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后，即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴，再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴，从而实现偏振片透光轴的高精度标定。 |
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