| 专利名称 | 采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 | 申请号 | CN201110182014.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102279288A | 公开（授权）日 | 2011.12.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 徐耿钊;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科 | 主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | 专利有效期 | 采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 至采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置，包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品；样品置于样品台上，样品内部包括一界面；电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路，第一电流计测量此第一电学回路中的电流；样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路，第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流，探针控制器与导电原子力探针以及样品连接，用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。 |
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