| 专利名称 | 一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法 | 申请号 | CN201210319870.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102788683A | 公开（授权）日 | 2012.11.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法 至一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法，属于光学检测领域。利用郎奇光栅的泰伯效应，平行光经过郎奇光栅的泰伯自成像周期与光栅周期一致，将星点板置于被测微透镜的物方焦点位置；利用微移台调节星点板并确定星点板的焦物距；由光栅的泰伯自成像周期变化可计算出星点板离焦时，微透镜出射球面波前的曲率半径即微透镜成像的像距；根据像距与焦像距的位置关系，结合牛顿公式，可完成微透镜的焦距测量。该方法操作简便易行，且具有较高的测量精度。 |
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