| 专利名称 | 星上定标用漫反射板光谱角反射特性的测量系统 | 申请号 | CN200710308508.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101216347 | 公开（授权）日 | 2008.07.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 张仲谋;王咏梅;王英鉴;杜国军;付利平;李聪 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/26(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 星上定标用漫反射板光谱角反射特性的测量系统 至星上定标用漫反射板光谱角反射特性的测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种应用于空间光谱仪器星上定标用漫反射板光谱角反射特 性的测量系统，包括一水平放置的准直光源；第一转台安装在试验平台上，第 二转台固定在第一转台上，第三转台安装在第二转台上；样品架由支撑杆和样 品安装板组成，支撑杆一端固定在第三转台上，另一端固定样品安装板；镜筒 内固定有聚光透镜；光纤束的一端放置在聚光透镜焦点处，另一端放置在单色 仪入射狭缝处；单色仪放置在试验平台上，由计算机控制；测量信号由光电探 测器接收。通过单色仪的波长扫描，即可获得某一入射角漫反射板反射光的光 谱曲线。通过第一转台和第二转台的有序转动完成对漫反射板不同入射角反射 光谱强度的测量，经处理后即为漫反射板的角反射特性值。 |
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