| 专利名称 | 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统 | 申请号 | CN200910242344.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101777136A | 公开（授权）日 | 2010.07.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 谭杰;赵红胜;朱智源 | 主分类号 | G06K17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K17/00(2006.01)I;G06K19/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统 至一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种高速运动状态下的电子标签性能测试方法及系统，该系统由待测电子标签，测试装置，测试设备组成，利用上述系统实现的方法包括：首先将待测电子标签放置在高速电子标签测试装置的转盘上，利用测试装置上的软件控制系统和电器系统，高速转动转盘，模拟电子标签高速运动，同时读写器向运动中的待测电子标签发送查询指令，观察电子标签对指令的响应情况，从而得出高速运动状态下的标签性能指标。通过该测试系统，提供在实验室环境下测试高速运动电子标签性能的方法，对标签的生产、使用起到关键指导作用。测试装置上的屏蔽罩用于增加或减少转盘暴露范围，有助于提高测试结果的正确性和测试过程的安全性。 |
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