| 专利名称 | 一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法 | 申请号 | CN201110161031.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102830345A | 公开（授权）日 | 2012.12.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 杨海钢;周发标;秋小强;王飞 | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法 至一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法，涉及可编程逻辑器件技术，用于分析评价FPGA测试配置的完备性。本发明方法结合FPGA的结构特点，首先建立FPGA的配置词典；然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性。通过本发明提出的方法，无需故障仿真就能对FPGA的测试配置进行快速的分析评价：分析测试配置所有可测和不可测的FPGA资源，评价测试配置的完备性，从而可以指导FPGA测试配置的改进，提高FPGA测试配置的开发效率。 |
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