| 专利名称 | 大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统 | 申请号 | CN200810032255.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101214145 | 公开（授权）日 | 2008.07.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 丁超;步鹏;王向朝 | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/00(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I | 专利有效期 | 大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统 至大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统，该系统采用折叠光谱 探测方法来实现宽带高分辨率的光谱探测，其思想是把一个带宽为Δλ的宽带 光谱折叠成多个窄的波长窗口Δλ1，Δλ2，…，Δλn，对每个谱段实现高分辨率 的探测，然后通过拼接把各个光谱段合成一个宽带光谱。谱段的折叠通过组 合衍射光栅实现，旋转子光栅调整入射光对于每块光栅的入射角im，使每块子 光栅所对应的波长窗口Δλm的衍射光方向分布在相同的范围之内，然后通过一 环面聚焦镜将各谱段的衍射光聚焦在光谱探测阵列的探测面上。本发明通过 光谱折叠，增加了光谱探测的有效探测像素数N，提高了光学相干层析成像系 统的探测深度和层析图的信噪比。 |
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