一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺

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专利名称 一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺 申请号 CN200910200964.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101771051A 公开(授权)日 2010.07.07 申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 肖德元;王曦;陈静 主分类号 H01L27/108(2006.01)I IPC主分类号 H01L27/108(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I 专利有效期 一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺 至一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺。其结构包括位于埋层氧化层上的N型半导体区、位于N型半导体区上的P型半导体区以及位于P型半导体区上的栅极区,P型半导体区、N型半导体区四周设有电隔离区。利用隔离的浮体栅二极管作存储节点,通过带与带间的隧道穿透,空穴在浮体积聚定义为第一种存储状态;通过PN结正向偏置,空穴从浮体发射出去或者电子注入到浮体,定义为第二种存储状态;这两种状态造成浮体栅二极管(P+/N+)正向开启电压的差异,通过电流的大小可以感知。本发明是一种高效低功耗高密度栅二极管(P+/N+)浮体存储器单元,具备制作工艺简单、集成密度高、成本低廉及可靠性高等优点。

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