| 专利名称 | 全光场偏振像差检测装置 | 申请号 | CN201220130320.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202693266U | 公开（授权）日 | 2013.01.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 全光场偏振像差检测装置 至全光场偏振像差检测装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种全光场偏振像差检测装置，该装置包括：全偏振态发生器、全偏振态分析器及信号处理和控制系统。本实用新型具有结构简单、共光轴且稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。 |
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