| 专利名称 | 一种快速X射线荧光CT方法 | 申请号 | CN201010171983.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN101862200A | 公开(授权)日 | 2010.10.20 | 申请(专利权)人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明(设计)人 | 邓彪;杨群;谢红兰;杜国浩;肖体乔 | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种快速X射线荧光CT方法 至一种快速X射线荧光CT方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明所要解决的技术问题是提高传统X射线荧光CT的数据采集速度。本发明采取的技术方案是提供一种快速X射线荧光CT方法,具体包括用大光斑照射样品,采用加装铅准直器的阵列荧光探测器记录荧光能谱。该方法的数据采集速度与传统的X射线荧光CT方法相比可提高很多倍,数据采集速度提高的倍数与阵列荧光探测器的阵列元相当,例如对于一个64×64阵列荧光探测器,数据采集速度可提高约64×64倍,可实现快速、原位X射线荧光CT实验。 |
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