| 专利名称 | 一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法 | 申请号 | CN201210363918.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102890252A | 公开（授权）日 | 2013.01.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 发明（设计）人 | 詹清峰;张晓山;刘宜伟;代国红;李润伟 | 主分类号 | G01R33/18(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/18(2006.01)I | 专利有效期 | 一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法 至一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法。该方法采用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的非磁性模具对柔性磁性薄膜产生应变，得到所施加应力与无应力存在时的应力差Δσ，然后利用磁光克尔效应测试系统测量该柔性磁性薄膜样品在无应变与应变条件下各向异性场的变化量ΔHK，通过饱和磁致伸缩系数公式λs=ΔHkMs/(3Δσ)，直接计算得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs。与现有磁性薄膜的磁致伸缩系数测量方法相比，本发明具有测量精度高、简单易行、成本低的优点，具有良好的应用前景。 |
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