| 专利名称 | Z扫描光学非线性测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201210487216.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102937573A | 公开（授权）日 | 2013.02.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 蔡晓林;魏劲松 | 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/17(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I | 专利有效期 | Z扫描光学非线性测量装置和测量方法 至Z扫描光学非线性测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种Z扫描光学非线性测量装置和测量方法，本发明可以实现两个激光波长的测量，光源既可以是连续光，也可以是脉冲光，且脉冲宽度和重复频率可调；入射激光功率从0到100%连续可调；装置中的光隔离器能有效消除光学元件及待测样品表面反射光对激光器的影响，使得测量结果准确可靠；旋转λ/4波片可以测量线偏振、圆偏振、椭圆偏振态激光作用下样品的非线性光学参数；调节光路，改变两束光的相对强度可以实现双色时间分辨的非线性吸收和折射测量；调节泵浦光和探测光的偏振态可以测量不同偏振态激光作用下样品的时间响应特性；能够同时测量透射开孔、透射闭孔和反射开孔数据，不仅适用于测量透明样品，也适用于测量半透明样品。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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