| 专利名称 | 一种质谱质量测量误差的预测方法 | 申请号 | CN200610164852.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101196498 | 公开（授权）日 | 2008.06.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 高文;张京芬;贺思敏 | 主分类号 | G01N30/72(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N30/72(2006.01)I | 专利有效期 | 一种质谱质量测量误差的预测方法 至一种质谱质量测量误差的预测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤一，将 物质的测量误差分解为系统误差与随机误差；步骤二，在质谱中计算样本点的测量 误差，样本点包括质谱中的离子、离子之和或者离子之差；步骤三，使随机误差的 目标函数取最值来确定系统误差分布函数的参数取值。所述在质谱中计算样本点的 测量误差是通过预测离子分子式的方法获得。本发明的优点是：不需要额外的内标 或外标参考，不需要进行预先的鉴定；既可以预测单个质谱的误差情况，也可以预 测整个样品的所有质谱的误差分布情况；预测准确度高。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障