| 专利名称 | 高压保真取样装置 | 申请号 | CN200710168334.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101187602 | 公开（授权）日 | 2008.05.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 魏宁;李小春 | 主分类号 | G01N1/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/14(2006.01)I | 专利有效期 | 高压保真取样装置 至高压保真取样装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种高压保真取样装置，涉及一种取样装置。本发明是在压力 中继容器(10)外壁包裹有温度调节器(20)，在压力中继容器(10)的左右两 端头分别连接有取样口(40)和传递口(30)；传递口(30)和外部压力/流量控 制设备(60)连接，取样口(40)和分析容器(70)连接，温度调节装置(20) 通过电缆(50)和温度控制驱动器(80)连接；所述的压力中继装置(10)是在 高压容器(11)内设置有中继薄膜(12)，将高压容器(11)分隔为取样室(13) 和压力/流量控制室(14)。本发明能精确控制取样速率和取样过程中温度、压力 的变化，可广泛应用于各种现场和室内试验的取样分析中。 |
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