| 专利名称 | 一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法 | 申请号 | CN200710304267.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101183140 | 公开（授权）日 | 2008.05.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李佳;胡瑜;李晓维 | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 专利有效期 | 一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法 至一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法， 其中测试电路包括：测试外壳寄存器链、待测芯核连接电路、片上数据通 路连接电路以及控制逻辑电路；所述待测芯核连接电路是连接在所述测试 外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，所述片上数据通路连接电路是 连接在所述测试外壳寄存器链与片上数据通路之间的互连电路；所述控制 逻辑电路控制所述待测芯核连接电路和片上数据通路连接电路中的数据 流向。本发明根据片上多核处理器的特点进行了优化设计，充分利用了片上 数据通路的带宽，降低了测试成本，减少了片上数据通路中传输数据包的数 目，所以大大降低了大量活跃数据包导致的额外功耗开销，并且大大缩短了 测试时间。 |
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