| 专利名称 | 一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法 | 申请号 | CN201210122908.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102636744A | 公开（授权）日 | 2012.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 封国强;韩建伟;朱翔;姜昱光;上官士鹏;陈睿;马英起;余永涛 | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/317(2006.01)I | 专利有效期 | 一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法 至一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置，包括FPGA测试电路、时序控制电路和上位机控制模块；其中，时序控制电路连接到FPGA测试电路，FPGA测试电路连接到上位机控制模块；在测试过程中，FPGA测试电路、时序控制电路分别与被测FPGA相连，而时序控制电路还要连接到单粒子效应试验装置上；时序控制电路生成用于被测FPGA的工作时序控制信号以及用于单粒子效应试验装置的辐射时序控制信号；FPGA测试电路用于保存被测FPGA的配置数据，并实现配置数据在被测FPGA上的配置与回读；还用于与被测FPGA以及上位机控制模块的数据传输，以及对时序控制电路的触发；上位机控制模块用于控制FPGA测试电路，对在不同工作状态下被测FPGA的配置数据、工作数据分别加以比较。 |
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