| 专利名称 | 基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统 | 申请号 | CN200610104862.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101178337 | 公开（授权）日 | 2008.05.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 马臻;樊学武;陈荣利;李英才 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统 至基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种杂光系数测试方法及其系统，尤其是一种基于计算全息 元件的大口径杂光系数测试方法及其系统。其技术解决方案为：该方法包括 以下步骤：1)将出射的激光扩束成为大口径平行光；2)将该大口径平行光 照射到计算机全息光学元件上得到空心光束；3)将空心光束出射入待测光 学系统后，在待测光学系统后焦面上形成被亮光区围绕的黑斑区域；4)分 别测量黑斑区域光照度Eb及亮光区的光照度Ew；5)根据公式e=Eh/Ew×100％得出 杂光系数e。其解决了普通技术中测试不方便、实现难度困难的技术问题。 |
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