用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法

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专利名称 用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 申请号 CN201010209712.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101865982A 公开(授权)日 2010.10.20 申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 王秋良;王厚生;胡新宁;宋涛;严陆光 主分类号 G01R33/12(2006.01)I IPC主分类号 G01R33/12(2006.01)I;G01L3/02(2006.01)I 专利有效期 用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 至用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种用于空间磁体的二极磁矩的测量装置包括空间磁体(1)、支撑杆(2)、旋转架(3)、吊杆(4)、Helmholtz线圈(5)、支承座(6)、测力仪(7)和固定架(8)。由于Helmholtz线圈(5)产生的磁场和空间磁体(1)的磁矩相互作用,产生旋转力矩。Helmholtz线圈(5)受到旋转力矩作用,通过旋转架(3)和吊杆(4)使Helmholtz线圈(5)在支承座(6)承载支撑杆(2)上旋转。通过测量Helmholtz线圈(5)的转动力矩测量磁体的二极磁矩的大小。

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